NCM 90314100 - Para controle de wafers ou de dispositivos, semicondutores, ou para controle de máscaras ou retículos utilizados na fabricação de dispositivos semicondutores
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9031
Instrumentos, aparelhos e máquinas de medida ou controle, não especificados nem compreendidos em outras posições do presente Capítulo; projetores de perfis.
| Para controle de wafers ou de dispositivos, semicondutores, ou para controle de máscaras ou retículos utilizados na fabricação de dispositivos semicondutores | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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NCM: 90312090
Outros
NCM: 90314910
Para medida de parâmetros dimensionais de fibras de celulose, por meio de raios laser
